VIONiC™ 數位增量式光學尺
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VIONiC 光學尺系列是 Renishaw 最高效的增量式光學尺。透過優異的量測效能、高操作速度和卓越的可靠性,
可提供直接數位位置回饋。
VIONiC 讀頭整合 Renishaw 經市場認可的過濾光學鏡組與進階細分技術。因此,可提供超低細分誤差 (SDE)、
絕佳抗汙能力,且無須使用額外轉接器或獨立介面。
VIONiC 讀頭相容於多種線性、部分弧線和旋轉光學尺,從低膨脹係數的
ZeroMet™ 光學尺到高精確的 REXM 環皆適用。
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特性
l 數位輸出,讀頭尺寸:35 x 13.5 x 10 mm
l 最小 2.5 nm 解析度
l 速度高達 12 m/s
l 超低的細分誤差 (SDE):一般低於 ±15 nm
l 光學 IN‑TRAC™ 參考原點
雙限位
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優勢
l 整合設定的LED安裝簡便
l 無需額外的轉接器或單獨介面
l 相容於進階診斷工具 ADTi-100,易於進行查錯,處理安裝與維修問題
l 可搭配多種線性、部分弧線和旋轉光學尺使用
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超低細分誤差 (SDE)
VIONiC光學尺系列整合Renishaw獲市場肯定的過濾光學鏡組與訊號處理功能,
可實現優異的量測效能。
進階細分技術提供一般可低於±15 nm的超低細分誤差(SDE),
為所有Renishaw光學尺中的最低數值。
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高速操作和精細解析度
VIONiC 讀頭具備智慧型細分晶片以提供 2.5 nm 的精細解析度,並且在任何應用中皆提供高精度與重複性。
光學尺提供 50 MHz 的最高時脈率,且速度高達 12 m/s。
解析度為 0.1 µm 時的最高速度可達到 3.63 m/s,適用於半導體製程中的最高產量。
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速度
時脈輸出選項
(MHz)
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最高速度 (m/s)
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最小邊緣區隔*
(ns)
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D
(5 μm)
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X
(1 μm)
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Z
(0.5 μm)
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W
(0.2 μm)
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Y
(0.1 μm)
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H
(50 nm)
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M
(40 nm)
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P
(25 nm)
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I
(20 nm)
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O
(10 nm)
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Q
(5 nm)
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R
(2.5 nm)
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50
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12
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12
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12
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7.25
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3.63
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1.81
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1.45
|
0.906
|
0.725
|
0.363
|
0.181
|
0.091
|
25.3
|
40
|
12
|
12
|
12
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5.80
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2.90
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1.45
|
1.16
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0.725
|
0.580
|
0.290
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0.145
|
0.073
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31.8
|
25
|
12
|
12
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9.06
|
3.63
|
1.81
|
0.906
|
0.725
|
0.453
|
0.363
|
0.181
|
0.091
|
0.045
|
51.2
|
20
|
12
|
12
|
8.06
|
3.22
|
1.61
|
0.806
|
0.645
|
0.403
|
0.322
|
0.161
|
0.081
|
0.040
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57.7
|
12
|
12
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10.36
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5.18
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2.07
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1.04
|
0.518
|
0.414
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0.259
|
0.207
|
0.104
|
0.052
|
0.026
|
90.2
|
10
|
12
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8.53
|
4.27
|
1.71
|
0.850
|
0.427
|
0.341
|
0.213
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0.171
|
0.085
|
0.043
|
0.021
|
110
|
08
|
12
|
6.91
|
3.45
|
1.38
|
0.690
|
0.345
|
0.276
|
0.173
|
0.138
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0.069
|
0.035
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0.017
|
136
|
06
|
12
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5.37
|
2.69
|
1.07
|
0.540
|
0.269
|
0.215
|
0.134
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0.107
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0.054
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0.027
|
0.013
|
175
|
04
|
12
|
3.63
|
1.81
|
0.730
|
0.360
|
0.181
|
0.145
|
0.091
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0.073
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0.036
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0.018
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0.009
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259
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01
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4.53
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0.910
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0.450
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0.180
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0.090
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0.045
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0.036
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0.023
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0.018
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0.009
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0.005
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0.002
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1038
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* 用於具有 1 公尺纜線的讀頭。
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VIONiC™ 數位增量式光學尺
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讀頭安裝圖(在RTLC20-S柵尺上)
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RSLM20 / RELM20固定夾/鉗片固定安裝圖
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選配的進階診斷工具 ADTi-100
QUANTiC™, VIONiC™ and ATOM DX™
光學尺系統能相容於進階診斷工具
ADTi-100 和 ADT View 軟體。
這些工具能提供全方位即時光學尺資料回饋,
有利於執行更加艱困的安裝與診斷作業。
直覺式軟體介面可用於下列操作:
- 遠端校準
- 監控時速表
- 匯出與儲存資料
- 全軸長訊號最佳化
- 讀頭刻線距離指示
- 限制與參考原點指示
- 光學尺位置的數位讀數
(相對於光學尺)
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光學尺選項
光學尺名稱
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RTLC20
不鏽鋼帶光學尺
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RKLC20
線性和部分弧線光學尺
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RSLM 20
不鏽鋼光學尺
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RELM20
ZeroMet光學尺
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RESM20
不鏽鋼環
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光學尺類型
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精度
(包括斜度和線性精度)
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±5 µm/m
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±5 µm/m
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5m精度達到±4μm
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±1μm/m
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刻度精度:±3.97 至 ±0.38 弧秒(依環徑而定)
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線性誤差
(可通過兩點誤差修正實現該數值)
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±2.5 µm/m
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±2.5 µm/m
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最大長度
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10 m
(可依要求大於10 m)
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20 m
(可依要求大於20 m)
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5m
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1.5m
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52 至 550 mm
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熱膨脹係數
(20 °C時)
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10.1 ±0.2 µm/m/°C
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以端蓋固定光學尺尾端時,能符合基板材質
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10.1 ±0.2 μm/m/°C
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0.75 ±0.35 μm/m/°C
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15.5 ±0.5 µm/m/°C
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RENISHAW(雷尼紹) V2B, V2C系列
VIONiC 增量式光學尺系統 安裝影片 原廠網址
VIONiC 增量式光學尺系統
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超精巧all-in-one 讀頭設計
結合訊號細分和數位訊號處理於一體的光學尺系統,
讀頭直接輸出數位訊號,免除額外連接介面的需要
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先進動態訊號處理技術
提昇系統整體規格表現、精度、超低細分誤差和
RMS 抖動分別低於10 nm 和 1.6 nm
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第三代光學濾波技術
實現優異的抗污能力和消除系統雜訊抖動
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全新all-in-one VIONiCTM 系列光學尺系統,把光學濾波,
訊號細分和數位訊號處理完美結合!
全新all-in-one VONiC 高性能增量式光學尺系列整合Renishaw 獨有的先進光學濾波和訊
號細分技術,讀頭直接輸出數位訊號,免除額外連接轉換頭或分離式介面的繁瑣。
VIONiC 的規格足以滿足市場上要求高端嚴謹的應用,包括一些追求高精度,高速度
和精密動態運動控制的應用。
VIONiC 提供兩種型號選擇,標準VIONiC 設計用於中高端應用,VIONiCplusTM 則針
對要求高端嚴謹的應用。兩款VIONiC 讀頭均兼容一系列不同規格與特性的線性和環
形光學尺,讓工程師在設計機台時有更大的靈活性。 如Renishaw 其他光學尺系列一
樣,VIONiC 光學尺也提供寬鬆的安裝公差和自動校正功能,使安裝得以輕鬆完成。
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系統特性:
追求更高速度 ?
VIONiC 讀頭在最高時脈頻率( 計數器速度:50MHz) 輸出的正交訊號差分最短間隔僅
25.3ns,容許在高解析度下進行高速定位置回饋。
追求更高精度 ?
VIONC 兼容一系列線性和環形光學尺,包括精度達±1um/m 的低膨脹殷鋼尺和精度
達±1 弧秒的環形光學尺等。
追求更優秀的運動控制 ?
VIONiCplus 採用Renishaw 最新的細分演算法和訊號處理技術以獲取低於10nm 的超
低細分誤差。低細分誤差意味著更低的速度漣波(Velocity Ripple),對要求平穩速度控
制的應用尤其重要,如掃瞄量測系統。VIONiCplus 智能晶片可提供8000 倍的細分,
相當於讀頭直接輸出解析度達2.5 nm 的數位訊號,是同時要求高精度和高重複性定位
系統的不二之選。
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產品規格:
• 精巧讀頭設計 ( 尺寸僅35 x 13.5 x 10 mm)
• 兼容線性和環形光學尺,提供IN-TRAC 雙向自動調相參考原點
• 第三代光學濾波技術大幅減少系統雜訊( 抖動)
• 動態訊號處理功能提供超低電子細分誤差:
- VIONiC : <±30 nm
- VIONiCplus : < ±10 nm
• 高精度:
- VIONiC 解析度範圍 : 5 μm 至 20 nm
- VIONiCplus 解析度範圍 : 0.1 μm 至 2.5 nm
• 自動增益控制,自動平衡控制和自動偏移量控制確保長遠的訊號穩定性
• 配置安裝LED,讓用戶輕鬆完成安裝和診斷
• 最高工作速度達12m/s ( 在 0.1 μm 解析度情況下,速度為3.63 m/s)
• 內置雙限位 ( 僅限線性光學尺)
• 最高工作溫度達 70oC
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